Met behulp van machine vision-technologie slaagt het Zwitserse Petitpierre er in om microcomponenten – zoals horlogeonderdelen – volledig geautomatiseerd, nauwkeurig én sneller te inspecteren. De sleutel tot succes: HALCON-software van MVTec en slimme integratie van reinigen en meten in één compact systeem.
De inspectie van minuscule precisieonderdelen, zoals gebruikt in de horloge-industrie, stelt hoge eisen aan snelheid, nauwkeurigheid en herhaalbaarheid. Contactloos meten onder productieomstandigheden is complex, zeker als er hoge volumes en uiteenlopende geometrieën in het spel zijn.
Petitpierre, specialist in microtechnologie, ontwikkelde een geïntegreerd systeem voor reinigen én meten, dat onder andere wordt ingezet bij KIF Parechoc, fabrikant van onder andere uurwerkcomponenten. Het systeem bestaat uit twee modules: DROP, voor automatisch reinigen en drogen, en LUMEN, voor uiterst nauwkeurige optische meting. De aansturing en beeldverwerking gebeurt met HALCON-machine vision software van MVTec.
Meer artikelen over MACHINE VISION:
- Machine vision in de praktijk: kwaliteitscontrole van flessendoppen
- Machine vision gebruiken zonder programmeervaardigheden
Van cleanroom naar werkvloer
Waar voorheen in cleanrooms werd gemeten met contactmethoden, vindt de inspectie nu direct op de productievloer plaats. Daardoor zijn de meettijden verkort en is de procesketen vereenvoudigd. Met één klik start de operator het reinigings- en meetproces; handmatige tussenkomst is minimaal. De meetdata worden automatisch doorgestuurd naar de kwaliteitscontrolesoftware.
De optische meetopstelling maakt gebruik van telecentrische lenzen, prisma’s, een stofafschermende lade en een optische sensor. HALCON-software detecteert automatisch de onderdelen en voert contourherkenning en 2D-matching uit met submicronnauwkeurigheid.
Geavanceerde software
MVTec HALCON blijkt essentieel in dit systeem. De software biedt robuuste functies voor contourdetectie, subpixelmeting en camerakalibratie. Zo worden diameters, stralen, hoeken en concentriciteit betrouwbaar bepaald, ook bij complexe vormen en reflecterende oppervlakken.
Een belangrijk voordeel is dat HALCON speciaal is afgestemd op telecentrische optiek, wat perspectivische vervorming voorkomt. Dit verhoogt de meetnauwkeurigheid en elimineert correcties achteraf.
Hogere productiviteit, minder uitval
Door het volledig automatiseren van het inspectieproces bespaart KIF Parechoc tijd en kosten, terwijl de meetnauwkeurigheid en reproduceerbaarheid toenemen. De contactloze inspectie voorkomt bovendien beschadiging of besmetting van kwetsbare onderdelen.
“Dankzij HALCON kunnen we sneller meten, met hogere precisie en zonder handmatige aanpassingen”, aldus Thomas Majoulet van Petitpierre. “Daarmee tillen we onze productkwaliteit en efficiëntie naar een hoger niveau.”
