Sick biedt een compleet portfolio afstandssensoren. Omdat ze alle functioneren op basis van triangulatiemeting is de gebruiker verzekerd van de hoogst mogelijke nauwkeurigheid en betrouwbaarheid. Als het gaat om afstandsmeting binnen het micro- en millimeterbereik, wil hij immers niets aan het toeval overlaten.
De OD Mini kenmerkt zich door een compacte robuuste behuizing in aluminium of roestvast staal. CMOS-technologie zorgt voor een nauwkeurige meting onafhankelijk van kleur en helderheid van het oppervlak.
De OD Value registreert kleine verschillen in afmeting, vorm en positie. Dit type is betrouwbaar, gebruiksvriendelijk en efficiënt en daarmee heel geschikt voor applicaties waarbij de kwaliteit direct in het proces moet worden gecontroleerd en gewaarborgd..
De DT20 Hi is een solide oplossing voor continue kwaliteitscontroles op een afstand van maximaal 1 m. Dit type kenmerkt zich door een grote kleuronafhankelijkheid. Zelfs kleine objecten worden dankzij de roodlichtlaser exact gemeten.
Nauwkeurige afstandsmeting
De OD1000 is ontwikkeld voor nauwkeurige afstandsmeting tot maximaal 1 m. Objectmateriaal, -kleur of –structuur brengen de sensor – en dus het productieproces – niet van de wijs. Sick adviseert dit type voor uiteenlopende toepassingen met een hoge productiviteit.
De OD5000 is een krachtige meetsensor die met een meetfrequentie tot 80 kHz ook snelle en roterende objecten meet, tot op de micrometer precies. Met slechts één sensorkop meet de sensor zelfs de dikte van transparant materiaal.
De OD Max is een nauwkeurig optisch meetsysteem dat bestaat uit één of twee sensorkoppen op een analyse-eenheid. Het type is heel geschikt voor de berekening van twee meetresultaten; met de verschilmeting kan bijvoorbeeld dikte- of hoogteverschil van een object worden bepaald.
De OD Precision tenslotte biedt een zeer precieze afstandsmeting, zelfs bij hoogglanzende, diepzwarte en half of volledig transparante materialen. De gebruiker kan tot drie sensorkoppen op de analyse-eenheid aansluiten, bijvoorbeeld voor vlakheidsmeting van oppervlakken.
